在Enviratron中测量植物生长

Enviratron是一组定制的植物生长室,可模拟不同环境条件,结合机器人探测器进行基于传感器的精确表型测量,植物表型资讯介绍如下:

评估环境对植物生长的影响需要在受控环境条件下种植植物。植物表型是基因型×环境(G×E)的产物,爱荷华州立大学研发的Enviratron是在受控条件下测试环境对植物生长发育影响的设施。在Enviratron中作物(包括玉米)可以生长直至成熟,并且可以在植物整个生长周期中每天24小时,每周7天连续监测不同环境条件下植物的生长状况。

1

机器人探测器

2

一种将Odos三维图像与轮廓仪数据相结合以细化叶位置图并获取信息以精确定位叶片探头的软件 pipeline。b叶片分割和探测候选位置。

Enviratron是一组定制的植物生长室,可模拟不同环境条件,结合机器人探测器进行基于传感器的精确表型测量。该探测器可定期访问不同生长室中生长的植物,测量各种生长和生理参数,由无人地面车辆、工业机械臂和一组传感器组成,包括RGB、可见光和近红外(VNIR)高光谱、热成像、飞行时间(ToF)照相机、激光轮廓仪和脉冲振幅调制(PAM)荧光仪。该系统传感器可自动定位探测植物冠层中的叶片,利用基于计算机视觉算法收集各种生理数据,并通过机械臂“手眼”运动控制来规划运动。尤其是其允许在叶片表面上精确放置传感器探针自动探测叶片的功能,使得相对于其他类型的植物表型系统,Enviratron具有独特优势。

3

机械臂传感单元

综上所述,Enviratron提供了对植物生长参数的全新控制,并优化了基于传感器表型测量的位置和时机。另外,Enviratron中植物表型测量是实地测量——将传感器带到植物上,而不是将植物移到传感器上。

4

荧光仪探针的输出

来源:

Bao Y, Zarecor S, Shah D, et al. Assessing plant performance in the Enviratron.Plant Methods. https://doi.org/10.1186/s13007-019-0504-y.

 

扩展阅读:

植物表型资讯两周年目录汇总

植物表型资讯2019年1-9月目录汇总

微信图片_20190924114307