上海农科院“植物表型技术论坛”暨第14次PhenoTrait论坛圆满结束


发布时间:

2017-06-19

来源:

植物表型圈

作者:

慧诺瑞德

2017年6月16日,位于奉贤区的上海市农业科学院设施园艺研究所5楼会议室内,朱为民研究员正在为“植物表型论坛”致开幕词。他介绍了刚刚闭幕的中国种子协会第六次会员代表大会的情况,并引申到植物表型研究的重要性上来,寥寥数语道出了论坛举办的目的和必要性。

 

 

随后,来自慧诺瑞德(北京)科技有限公司的韩志国博士和来自中国科学院植物生理生态研究所的宋青峰博士分别以“植物表型组学和表型技术新进展”和“冠层光合计算模型与表型测量及指导作物育种”为题,向在座的31位参会代表介绍了国内外植物表型组学研究的现状、技术进展、如何构建表型平台、如何用光合模型进行表型研究和指导育种等内容。来自上海市农业科学院、上海交通大学等单位的代表与朱为民研究员和两位报告人做了热烈的交流讨论。

 

 

农作物表型精准鉴定是全面解析表型与基因关系、深入认知生命过程的前提,是培育突破性新品种、保障国家粮食安全的迫切需求。与飞速发展的基因组技术相比,目前作物表型性状获取手段主要依靠人工完成,大部分还停留在 “一把尺子一杆秤”的落后水平。由于缺乏足够的表型技术和科学方法去分析现有遗传资源,极大的制约了我国作物基因功能解码和作物育种的进展。因此,在获得海量作物基因组信息的基础上,如何高分辨、高效地解开基因功能、环境响应及作物表型三者的相互作用机理已成为一个全新的挑战。

 

 

 

我们相信,一个以学术为导向(不以商业为导向)的论坛可以更好的推动我国植物表型和现代农业的发展。为此,我们一直在努力。

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