“植物表型组学和表型技术”论坛暨第9次PhenoTrait论坛圆满结束


发布时间:

2016-12-25

来源:

植物表型圈

作者:

慧诺瑞德

2016年12月27日上午,中国农业大学农学楼110会议室座无虚席,甚至有很多人站着听完了整个上午的报告。是什么吸引了这么多人的积极参与?

 

 

原来,一场“植物表型组学和表型技术”论坛正在如火如荼的进行。华中农业大学杨万能博士、中国科学院上海生命科学院宋青峰博士、中国科学院植物研究所吴芳芳博士和慧诺瑞德(北京)科技有限公司韩志国博士分别做了精彩的报告。

 

中国农业大学农学与生物技术学院辛明明副教授为论坛致开幕词,并介绍了植物表型组学研究的重要性。

 

 

韩志国博士以“植物表型组学技术进展和表型平台的构建”为题介绍了国内外植物表型组学技术的进展,以及如何结合研究的实际需要构建表型平台。

 

 

宋青峰博士以“利用作物冠层光合表型指导作物育种”为题介绍了作物冠层光合表型测量的重要性、测量技术和测量模型及应用。

 

 

吴芳芳博士以“基于激光雷达技术的作物高通量三维表型测量平台”为题介绍了利用激光雷达技术在室内、田间和空中进行植物表型测量的技术和应用。

 

 

杨万能副教授以“水稻表型组进展和挑战”为题介绍了华中农业大学表型平台研发的历史和在水稻表型组方面的研究进展和挑战。

 

 

来自中国农业大学、中国科学院遗传与发育生物学研究所、中国科学院植物研究所、中国科学院自动化研究所、中国科学院地理科学与资源研究所、中国农业科学院作物科学研究所、中国农业科学院蔬菜花卉研究所、中国农业科学院农业资源与农业区划研究所、中国林业科学院、广东省农业科学院、北京大北农生物技术有限公司、聊城大学等单位的60位代表参加了本次论坛,并与报告人做了热烈的交流。

 

 

过去20年来,随着技术的发展,大量的植物全基因组测序已经完成,但对这些基因组进行解析的难度要远远大于测序的难度,多数基因的功能暂时还不清楚。在农业育种上所关心的核心问题——性状(Trait)也就是表型(Phenotype)——由于受到基因和环境的双重影响,更是难以进行可重复的精确测量。这使得植物表型研究被公认为制约植物功能基因组学和分子育种发展的瓶颈。

 

 

随着高通量植物表型测量技术的快速发展,越来越多的研究人员和育种家开始采用这一新兴的技术进行研究,越来越多的研究员人员相信,植物表型组学的时代已经来临。植物表型组学是一个跨学科的研究领域,它必须和基因组学、生物信息学、大数据计算结合起来,才能更好的为育种服务。

 

 

 

 

2017年,我们将再接再厉,为广大客户献上更加精彩的报告内容。

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