学术中心
基于高光谱反射率的作物数量遗传学表型分析:进展与挑战
- 分类:植物表型资讯
- 作者:PhenoTrait
- 来源:本站
- 发布时间:2021-07-23 06:10
- 访问量:
【概要描述】本文总结了利用高光谱反射率数据进行植物表型分析的最新进展,并讨论了其在植物遗传学中应用的潜在好处和仍然存在的挑战。
基于高光谱反射率的作物数量遗传学表型分析:进展与挑战
【概要描述】本文总结了利用高光谱反射率数据进行植物表型分析的最新进展,并讨论了其在植物遗传学中应用的潜在好处和仍然存在的挑战。
- 分类:植物表型资讯
- 作者:PhenoTrait
- 来源:本站
- 发布时间:2021-07-23 06:10
- 访问量:
育种家和遗传学家对植物生物化学和生理特性感兴趣,但目前的测量方法通常通量低且具有破坏性。这限制了在定量遗传环境中关于营养和代谢产物丰度自然变化信息的使用,也限制了数植物在数量遗传环境中光合能力的采集。最近的一些研究表明,在生态生理学背景下,通过高光谱反射率数据来估计这些特性的潜力。本文总结了利用高光谱反射率数据进行植物表型分析的最新进展,并讨论了其在植物遗传学中应用的潜在好处和仍然存在的挑战。
玉米遗传实验高光谱反射率数据的采集
根据2018年数据(Ge等人,2019年)和2019年数据构建的模型性能评估
在新的样本数据集上,评估了先前发表的模型从玉米高光谱反射数据中估计六个性状的性能,并估计了由此产生的可遗传的预测性状值(例如,由遗传因素解释)。采用高光谱反射法进行表型分析可能会加速对控制生物化学和生理特性自然变异的基因的研究。
地面真值与光谱预测值的狭义遗传力比较
来源:
Grzybowski M, WijewardaneN K., Atefi A, et al. Hyperspectral reflectance-based phenotyping for quantitative genetics in crops: progress and challenges. Plant Communications Volume 2, Issue 4, 12 July 2021, 100209. https://doi.org/10.1016/j.xplc.2021.100209.
扫二维码用手机看
推荐新闻

发布时间 : 2022-05-20 11:45:57

发布时间 : 2022-05-13 10:56:43

发布时间 : 2022-05-09 12:21:00
视频展示
专题报道
联系我们
慧诺瑞德(北京)科技有限公司
地址:北京市海淀区西三旗街道建材城中路12号院8号楼2门
电话:010-62925490、82928854、82928864、82928874
传真:010-62925490-802
Email: info@phenotrait.com
邮编:100096
在线留言
关注我们

植物表型圈

植物表型资讯
慧诺瑞德(北京)科技有限公司版权所有 京ICP备15043840号 网站建设:中企动力 北二分 法律声明