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全植株近距离高光谱成像

全植株近距离高光谱成像

  • 分类:植物表型资讯
  • 作者:PhenoTrait
  • 来源:植物表型资讯
  • 发布时间:2020-09-18 06:10
  • 访问量:

【概要描述】本文对近距离全植株HSI的研究进行了综述,讨论和比较了用于处理整个植株成像光照变化的影响方法

全植株近距离高光谱成像

【概要描述】本文对近距离全植株HSI的研究进行了综述,讨论和比较了用于处理整个植株成像光照变化的影响方法

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数字植物表型分析是信息技术与植物科学相结合的一个重要研究领域。数字表型技术旨在利用高端、无损传感技术和信息技术,在表型试验中自动提取植物结构和生理特征。高光谱成像(HIS)是一种极具潜力的植物表型传感器技术。与其他成像技术相比,HSI主要优点是可以同时提取植物的结构和生理信息。目前,HIS已被证明可用于分析植物的某些部位,例如采摘的叶片。然而,使用HSI从整个植株中提取信息仍存在重大挑战,因此该领域仍为目前的研究热点。

 

从实验室到田间的完整数字表型化场景

 

植物近距离高光谱成像示意图

 

植物高光谱数据由于光照散射、植物部分阴影、多次散射以及散射与阴影的复杂组合等原因引起光照变化,导致影响图像采集后的数据处理。而影响程度取决于植物类型及几何结构的复杂程度。为了处理这些影响,目前已经采用了一系列的方法,但是还没有有效的解决方法。本文对近距离全植株HSI的研究进行了综述,讨论和比较了用于处理整个植株成像光照变化的影响方法。此外,本文还强调了未来处理这些影响的可能性。

 

关键照明校正方法

 

对应700 nm光谱图像

 

来源:

Mishra P, Lohumi S, Khan H A and Nordon A. Close-range hyperspectral imaging of whole plants for digital phenotyping: Recent applications and illumination correction approaches. Computers and Electronics in Agriculture. https://doi.org/10.1016/j.compag.2020.105780.

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