高分辨率植物深层表型测量方案是采用X射线计算机断层扫描技术，对植物种子、果实、花朵、叶片、茎杆、根系等进行三维透射扫描的系统。 高分辨率深层表型测量系统可以在不破坏样品（无需染色、无需切片）的情况下，获得高精度三维表型图像，显示样品内部详尽的三维信息，并进行结构、密度的定量分析，适用于观察植物表型参数和植物活体组织的细胞结构，近年来被广泛应用于结构学、组织学、生物学、表型组学等研究领域。

PhenoCT系列包括

• 种子/器官深层表型测量系统 PhenoCT-1000，样品腔尺寸：30cm x 20cm（直径 x 高度）
• 根系立体结构无损测量系统 PhenoCT-Root，样品腔尺寸：60cm x 55cm（直径 x 高度）
• 植物三维结构透视测量系统 PhenoCT-Shoot，样品腔尺寸：42cm x 42cm（直径 x 高度）
• 全株植物显微CT表型自动化扫描平台 PhenoCT-R2S，样品腔尺寸：定制化设计

系统自屏蔽含铅防护箱体，含防辐射观察窗，辐射剂量当量率≤1μSv/h，满足国家GBZ17-2015《工业X射线探伤室卫生防护标准》及GB22448要求及环评要求。

典型测量结果